X射线谱的某些特征反映了原子内部结构的

情况。近年来X荧光技术的发展，用X射线

能谱仪分辨不同元素的特征X射线，并测量

其强度，从而确定待测元素的种类及含量

，在很多领域中得到了广泛的应用。通过

本实验，可以了解X射线在物质中的吸收规

律、吸收截面与物质原子序数及X射线能量的关系，了解元素的特征X射线谱，测量特征X射线的能量与元

素的原子序数的关系，掌握利用充气薄窗正比计数器测量低能量X射线的方法。